如何選用最合適的晶振片？

鍍膜科技日新月異，對(duì)于鍍膜工程師來說，如何根據(jù)不同的鍍膜工藝選擇最佳的晶振片確實(shí)不易。下面建議供大家參考：

1）鍍低應(yīng)力膜料時(shí)，選擇鍍金晶振片

最常見的鍍膜是鍍Al、Au、Ag、Cu，這些膜層幾乎沒有應(yīng)力，在室溫下鍍膜即可。膜層較軟，易劃傷，但不會(huì)裂開或?qū)桩a(chǎn)生負(fù)作用。建議使用鍍金晶振片用于上述鍍膜，經(jīng)驗(yàn)證明，可以在鍍金晶振片鍍60000埃金和50000埃銀的厚度。

2）使用鍍銀或銀鋁合金鍍高應(yīng)力膜層

Ni、Cr、Mo、Zr、Ni-Cr、Ti、不銹鋼這些材料容易產(chǎn)生高應(yīng)力，膜層容易從晶體基片上剝落或裂開，以致出現(xiàn)速率的突然跳躍或一系列速率的突然不規(guī)則正負(fù)變動(dòng)。有時(shí)，這些情況可以容忍，但在一些情況下，會(huì)對(duì)蒸發(fā)源的功率控制有不良作用。

3）使用銀鋁合金晶振片鍍介質(zhì)光學(xué)膜

MgF2、SiO2、Al2O3、TiO2膜料由于良好的光學(xué)透明區(qū)域或折射率特性，被廣泛用于光學(xué)鍍膜，但這些膜料也是最難監(jiān)控的，只有基底溫度大于200度時(shí)，這些膜層才會(huì)與基底有非常良好的結(jié)合力，所以當(dāng)這些膜料鍍?cè)谒涞幕拙д衿?，在膜層凝結(jié)過程會(huì)產(chǎn)生巨大的應(yīng)力，容易使晶振片在1000埃以內(nèi)就回失效。

這時(shí)候，選用合金晶振片將是最好的選擇，將大大減少調(diào)頻機(jī)會(huì)。實(shí)驗(yàn)室顯示，使用合金晶振片監(jiān)視氟化鎂，有效壽命比鍍金的長(zhǎng)100%。如果把冷卻水的溫度從20度提高到50度，晶振片的壽命更可以再延長(zhǎng)一倍。

七﹑晶振片的安裝及注意事項(xiàng)與技巧

隨著鍍膜規(guī)格指標(biāo)的需求日益嚴(yán)格，單靠光控已經(jīng)難以達(dá)到要求，晶振控制成為鍍膜必備的輔助或控制方法﹐如何正確有效地使用晶振片成為保證鍍膜質(zhì)量的重點(diǎn)。所以為了使晶振片壽命最長(zhǎng)，下面一些方法和技巧供您參考：

1.總是用攝子來挾住晶振片的邊緣，不要碰晶振片中心。
因?yàn)榫д衿駝?dòng)的活躍中心，任何灰層，油污都會(huì)降低晶振片的振動(dòng)能力。新的晶振片使用之前應(yīng)在酒精(分析純即可)中浸泡1分鐘左右，之后用塑料鑷子夾取并用無塵紙或潔凈的綢布將酒精擦拭干凈，同時(shí)用蘸有酒精的無塵紙或綢布將晶振座擦拭干凈，組裝晶振片之前用吹氣球?qū)⒕д衿?、晶振座及探頭的接觸彈簧上可能殘留的灰塵、紙屑等吹掉﹐晶振片裝好后再一次用吹氣球吹晶振片的表面，去除散落的灰塵。(有人建議用低壓過濾的氮?dú)饣虿缓偷目諝獯稻д衿谋砻?，去除散落的灰塵﹐本人認(rèn)為吹氣球即可﹐方便經(jīng)濟(jì)又快捷。)切記不要用手指直接接觸晶振片以免留下油漬。

2.保持晶振片的清潔。不要讓鍍膜材料的粉末接觸晶振片的前后中心位置。任何晶體和夾具之間的顆粒或灰層將影響電子接觸，而且會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力點(diǎn)，從而改變晶體振動(dòng)的模式。

3.晶振座經(jīng)過多次鍍膜后其表面會(huì)沉積較厚的膜，如果不將其除去，由于離子轟擊產(chǎn)生的反濺射會(huì)影響晶振片的測(cè)試精度?？梢韵扔脟娚盎蛴么蛏凹埛椒▽⒛映ィ笥镁凭?分鐘左右，如果能用超聲波振蕩清洗一下，效果會(huì)更好，最后再將其放入110℃烤箱中烘烤15分鐘，即可使用。

4.保持足夠的冷卻水使晶振頭溫度在20-50度。 如果可以將溫度誤差保持在1-2度范圍內(nèi)，效果更佳。

*阻抗，以保證測(cè)量的穩(wěn)定性和更長(zhǎng)涂層壽命。阻抗指標(biāo)的粘附和電極的電接觸。 *頻率，啟始頻率測(cè)在一個(gè)小規(guī)格范圍內(nèi)的驗(yàn)證，以確保精確的厚度測(cè)量。*曲率是進(jìn)行一種電子測(cè)試，以確保共振穩(wěn)定。使穩(wěn)定性差的曲率測(cè)量結(jié)果迅速下降。 *可視化整合，為確保最大的晶體壽命和穩(wěn)定性，為每個(gè)晶體的電極一致性檢查，表面缺陷，以及其它瑕疵，電極附著和污染。

2、頻率確保起始頻率在較小范圍內(nèi)，有助于確保您準(zhǔn)確的厚度測(cè)量。
3、曲率曲率的測(cè)試，是為了保證共振的穩(wěn)定性，差勁的曲率將降低晶控片（晶振片）測(cè)量過程的穩(wěn)定性。
4、外觀檢測(cè)每個(gè)晶體的電極均勻性、表面缺陷、以及其他的外觀缺陷都得到檢查，從而排除了較差的電極粘連性和可能的污染。